微控制器簡(jiǎn)稱“MCU”(簡(jiǎn)稱“單片機(jī)”)，是隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn)和發(fā)展，將計(jì)算機(jī)的CPU、RAM、ROM、定時(shí)器和多種I/O接口集成在片芯片上，形成芯片級(jí)的計(jì)算機(jī)，為不同的應(yīng)用場(chǎng)合做不同組合控制。MCU是一種低功耗的微控制單元，適用于各類小家電的控制.目前的32位MCU成為了主流市場(chǎng),一般使用在較為中高端的產(chǎn)品中,例如靈動(dòng)微的32位MCU產(chǎn)品，適合使用在手持設(shè)備,電機(jī)控制,網(wǎng)絡(luò)通信,無人機(jī)等應(yīng)用范圍.
 
MCU的測(cè)試通過測(cè)試系統(tǒng)完成，由電子電路和機(jī)械硬件組成，是由同一個(gè)主控制器指揮下的電源、計(jì)量?jī)x器、信號(hào)發(fā)生器、模式生成器和其他硬件項(xiàng)目的集合體，用于模仿被測(cè)器件將會(huì)在應(yīng)用中體驗(yàn)到的操作條件，以一定的方式保證被測(cè)器件發(fā)到或超越它的那些被具體定義在器件規(guī)格書里的設(shè)計(jì)指標(biāo).下面介紹關(guān)于MCU組合功能測(cè)試。
 
一．MCU組合功能測(cè)試
1．測(cè)試MCU軟件功能的完善性。這是針對(duì)所有單片機(jī)系統(tǒng)功能的測(cè)試,測(cè)試軟件是否寫的正確完整。
 
2．老化測(cè)試。測(cè)試長(zhǎng)時(shí)間工作情況下,單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性。必要的話可以放置在高溫,高壓以及強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下測(cè)試。
 
3、ESD和EFT等測(cè)試。可以使用各種干擾模擬器來測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性。例如使用靜電模擬器測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的抗靜電ESD能力;使用突波雜訊模擬器進(jìn)行快速脈沖抗干擾EFT測(cè)試等等。
 
4．上電、掉電測(cè)試。在使用中用戶必然會(huì)遇到上電和掉電的情況,可以進(jìn)行多次開關(guān)電源,測(cè)試單片機(jī)系統(tǒng)的可靠性。
 
還可以模擬人為使用中,可能發(fā)生的破壞情況。例如用人體或者衣服織物故意摩擦單片機(jī)系統(tǒng)的接觸端口,由此測(cè)試抗靜電的能力。用大功率電鉆靠近單片機(jī)系統(tǒng)工作,由此測(cè)試抗電磁干擾能力等。

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